小乔翻白眼🚩流眼泪的细节描写🌈 物位測量🚩技術的曆🌈史發展和🌈分類-廣州🌈迪川儀器儀🚩表有限公🚩司
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物位測量技(ji)術的曆史發展(zhǎn)和分類
  • 發布日(ri)期:2025-12-01      浏覽次數:2233
    • 物(wù)位測量技術發(fā)展

        物位測量技(jì)術經曆了結構(gou)上從機械式儀(yi)表向電子式儀(yi)表發展,以及工(gōng)作方式上由接(jiē)觸式向非接觸(chù)式發展的過程(chéng)。

       

        上圖中,前4種測(cè)量技術都屬于(yu)接觸式測量方(fang)法,第5種輻射法(fa)爲非接觸測量(liàng)方法。其中,直視(shi)法是指眼睛可(kě)以直接觀測到(dào)介質👄容量變化(huà)的一種方法;測(ce)力法是🌍指通過(guò)被測介☀️質對指(zhi)示器或❤️傳感器(qi)等目🌈标施加外(wài)力來測量的方(fāng)法;壓🆚力法是由(yóu)被測介質🔴施加(jiā)在測量探頭而(er)産生壓力進行(hang)測🌈量的方法;電(diàn)特性法是利用(yong)🧑🏽‍🤝‍🧑🏻被測介質的電(diàn)特性進行測量(liàng)的方法;輻射法(fǎ)采用電磁頻譜(pu)原理技術。

        前4種(zhong)方法需要測量(liang)儀器的全部或(huo)一部分部件與(yu)被測介質(固體(ti)或液體物料)相(xiàng)接觸才能達到(dao)測量的目的。從(cóng)💃長期來看,物料(liào)💔粘附物及沉積(jī)物會對這🤩些機(jī)械部件産🈲生附(fù)着,當物料✊爲腐(fǔ)蝕性或易産生(sheng)水鏽的介質時(shi),對儀器精度的(de)影響将更加嚴(yán)重。在🈲工業生産(chǎn)中♊,對物位儀表(biǎo)zui基本的要求🔞是(shi)高精度和高可(ke)靠性,這就需要(yao)有應用範圍更(geng)大、精度更🔆高的(de)技術出現。

        TOF測量(liàng)原理

        近幾年來(lái),發展較快的是(shi)行程時間或傳(chuán)播時間ToF ( time of flight )測量😘原(yuán)理,又稱⭐回波測(cè)距原理。它是利(lì)用能量波在空(kōng)間中的傳播時(shí)間來進行度量(liang)的一種方法。能(neng)量波在信号源(yuan)與被測對象之(zhī)間傳🌏遞,能量波(bō)到達被測對象(xiang)後被反射并返(fan)回到探頭🔅上被(bèi)接收,屬于非接(jiē)觸測距。

         雷達(dá)物位計分類

        盡(jìn)管輻射法物位(wèi)計都是采用ToF測(ce)量原理,但所采(cai)用的能量🔴波不(bu)🌈同時,信号的反(fǎn)射機理及在信(xìn)号處理等方💔面(mian)都有很✊大的不(bu)同。以現在常用(yòng)的超聲波和微(wēi)波物♍位計爲例(lì),它們都采用ToF測(ce)量原理,都需要(yào)一個信号發生(shēng)器和一個回波(bo)信号接收器,但(dàn)兩種能😄量波在(zai)性質、頻率範圍(wéi)、反💜射方法以及(ji)對于包含距離(lí)信号的反射波(bō)的處理上都有(yǒu)比較大的差别(bié)。

        超聲波物位計(jì)與微波物位計(jì)的對比

        電磁波(bo)的波段從3kHz~3000GHz ,微波(bo)是指頻率爲300MHz~300GHz的(de)電磁波。在物位(wei)檢測中🌈,微波使(shǐ)用的頻段規定(ding)在4~30GHz之間,典型波(bo)段爲6.3GHz、10GHz 、26GHz。6.3 GHz 的頻率屬(shu)于C波段微波💰;10GHz的(de)頻率屬于X波段(duàn)微波;26GHz的頻率屬(shu)于K波段微波。

        聲(shēng)波是機械波,頻(pin)率範圍爲20Hz~20kHz ,因此(cǐ),當聲波的振動(dong)頻率高⛹🏻‍♀️于🌈20kHz或低(di)于20kHz時,我們便聽(ting)不見了。我們把(ba)頻率高于20kHz 的🌈聲(sheng)波稱爲“超聲波(bō)”。

        電磁波與聲波(bō)産生的原理是(shì)不同的,聲波是(shi)靠物質的振動(dong)🐪産生的,在真空(kong)中不能傳播;而(ér)電磁波是💚靠電(dian)子的♻️振蕩産生(shēng)的,其本身就是(shi)一種物質,傳播(bō)⛱️不需要介質,能(neng)🔞在真空中傳播(bō)🏒。這兩種波在通(tong)過不😄同的介質(zhi)時都會發生折(shé)射、反射、繞射和(he)🌐散射及吸✨收等(deng)現象,物位計正(zheng)是應用這種特(te)性♌來測量距離(li)✂️的。

        超聲波物位(wei)計由聲納技術(shu)衍化而來,其安(ān)裝方式有頂👣部(bù)安裝和底部安(an)裝兩種。早期的(de)超聲物位計💰采(cai)用的也🙇‍♀️是液體(ti)導聲,超聲探頭(tóu)安裝在料罐底(di)部外,超聲波從(cóng)底❄️部傳入,經被(bei)測液體傳🏃🏻‍♂️播到(dào)液面,反✔️射後傳(chuán)回探頭。超聲🤩波(bo)傳播時間與液(ye)位的高低成正(zhèng)比。由于超🌂聲波(bo)在各種😍被測介(jie)質中傳播的聲(sheng)速不同,所以很(hěn)難做成通用産(chan)品;且料罐底部(bu)(尤🔞其是液體料(liào)罐♌的底部🔆)安裝(zhuang)探頭的方法在(zài)實用中往往🔱也(ye)有困難。因此,在(zai)實👣際工業過程(cheng)中,利用空氣作(zuo)爲導聲介質的(de)頂部安裝應用(yòng)越來越廣泛。

        與(yǔ)超聲波物位計(jì)相比,雷達物位(wèi)計的微波信号(hao)是在不同⁉️介電(dian)常數的分界面(miàn)上反射的。微波(bō)以光速傳播🈚,速(sù)度幾乎不受介(jie)質特性的影響(xiang),傳播衰減也很(hěn)小,約0.2dB/km 。回波信❓号(hao)強弱很大程度(dù)上取決于被測(cè)液面上的反射(shè)情況。在☎️被測液(yè)面上的反射🔴率(lü)除了取決于被(bei)測物⁉️料的面積(ji)和形狀外,主要(yào)取決于物料的(de)相對介電常數(shù)εr。相對介電常數(shu)高,反射率也高(gao),得到的回波強(qiáng)度高;相對介電(diàn)常數低,物料會(hui)吸收部分微波(bō)能量,回波強‼️度(dù)較低。

         近年來,微(wei)電子技術的滲(shèn)入大大促進了(le)新型物位測量(liàng)技術的發展,新(xin)的測量技術促(cu)使物位測量儀(yi)表産‼️品結🍉構産(chǎn)生了📱很大變化(hua)。電池供電及無(wu)線雷達式物💛位(wei)儀表也開始在(zài)市場上出現。所(suo)有這些技術上(shang)取得的進步以(yi)🈲及不斷下降的(de)價格正推動着(zhe)雷達式物位儀(yí)表的不斷增長(zhang)。

       

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